測(cè)試針，用于測(cè)試線路板的一種常見的探針，表面鍍金，內(nèi)部有平均壽命3-10萬(wàn)次的琴鋼線制作成的高性能彈簧，根據(jù)電子測(cè)試的用途可分為三種：

1、光電路板測(cè)試探針：未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開路、短路檢測(cè)探針，國(guó)內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品；

2、在線測(cè)試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針；高端產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品；　

3、微電子測(cè)試探針：即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針，核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā)，有部分產(chǎn)品成功生產(chǎn)，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品。

探針主要類型：懸臂探針和垂直探針。　　

懸臂探針：劈刀型（Blade Type）和環(huán)氧樹脂型（Epoxy Type）

垂直探針：垂直型（Vertical Type）

1.ICT探針　（ICT series Probes)　　一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱呼：100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測(cè)試和功能測(cè)試．也稱ICT測(cè)試和FCT測(cè)試．也是目前應(yīng)用較多的一種探針。

2.界面探針(Interface Probes)　　非標(biāo)準(zhǔn)的探針，一般是為少數(shù)做大型測(cè)試機(jī)臺(tái)的客戶定做的，例如泰瑞達(dá)和安捷倫。用于測(cè)試機(jī)臺(tái)與測(cè)試夾具的接觸點(diǎn)和面。

3.（MicroSeries Probes)　　兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)中心間距一般為0.25mm至0.76mm.

4.開關(guān)探針（Switch Probes)　　開關(guān)探針單獨(dú)一支探針有兩路電流。

5.高頻探針（Coaxial Probes)　　用于測(cè)試高頻信號(hào)，有帶屏蔽圈的可測(cè)試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的。

6.旋轉(zhuǎn)探針（Rotator Probes)　　彈力一般不高，因?yàn)槠浯┩感员緛?lái)就很強(qiáng)，一般用于OSP處理過(guò)的PCBA測(cè)試。

7.高電流探針（High Current Probes)　　探針直徑在2.54mm-4.75mm之間．最大的測(cè)試電流可達(dá)39amps。　　

8.半導(dǎo)體探針 (Semiconductor Probes)　　直徑一般在0.50mm-1.27mm之間。

9.電池探針 (Battery Contacts)　一般用于優(yōu)化接觸效果，穩(wěn)定性好和壽命長(zhǎng)。